Регистрация на семинар 18 июня 2015 г.
Время |
Тематические вопросы |
Докладчик |
10:00-10:05 |
Вступительное слово. Представление докладчиков и программы
|
Бартенев Владимир Яковлевич, зам. генерального директора АО «МосЭП» |
10:05-10:30 |
Введение. Презентация группы компаний Industrial Monitoring and Control (IMC Group) |
Кунижев Анзор Муаядович, Руководитель направления передвижных и стационарных комплексов, IMC Group |
10:30-11:00 |
Метод оперативного контроля однородности оксидного слоя полупроводников и электрического моделирования МДП структур |
Минин Максим Геннадьевич, руководитель направления метрологии высокоточных производств, IMC Group |
11:00-11:30 |
Анализ устройств микросистемной техники (МЭМС) в динамическом режиме. Изучение характеристик устройств в реальных условиях работы |
|
11:30-12:00 |
Контроль качества обработки поверхности пластин как инструмент улучшения качества процесса эпитаксии и увеличения процента выхода годного |
|
12:00-12:30 |
NI PXI - модульная платформа National Instruments для автоматизации тестирования в микро- и радиоэлектронике. |
Виноградов Денис Олегович, Региональный представитель National Instruments в ЦФО |
12:30-13:00 |
Российский и зарубежный опыт применения оборудования NI PXI в задачах тестирования электронных компонентов и узлов. |
Руданов Григорий Сергеевич, Региональный представитель National Instruments в г. Москве |
13:00-13:30 |
Подходы и опыт организации участков и центров контроля электронной компонентной базы. |
Чутко Олег Владимирович, менеджер по развитию бизнеса, National Instruments, |
13:45-14:45 |
Обед |
|
14:45-15:15 |
Обсуждение. Ответы на вопросы |
|