все новости

новость компании
Регистрация на семинар 18 июня 2015 г.

 

Время

Тематические вопросы

Докладчик

10:00-10:05

Вступительное слово.

Представление докладчиков и программы

 

Бартенев Владимир Яковлевич,

зам. генерального директора

АО «МосЭП»

10:05-10:30

Введение.

Презентация группы компаний

Industrial Monitoring and Control (IMC Group)

Кунижев

Анзор Муаядович,

Руководитель направления

передвижных и стационарных комплексов,

IMC Group

10:30-11:00

Метод оперативного контроля однородности оксидного слоя полупроводников и электрического моделирования МДП структур

Минин Максим Геннадьевич, руководитель направления метрологии высокоточных производств,

IMC Group

11:00-11:30

Анализ устройств микросистемной техники (МЭМС) в динамическом режиме. Изучение характеристик устройств в реальных условиях работы

11:30-12:00

Контроль качества обработки поверхности пластин как инструмент улучшения качества процесса эпитаксии и увеличения процента выхода годного

12:00-12:30

NI PXI - модульная платформа National Instruments для автоматизации тестирования в микро- и радиоэлектронике.

Виноградов Денис Олегович, Региональный представитель National Instruments в ЦФО

12:30-13:00

Российский и зарубежный опыт применения оборудования NI PXI в задачах тестирования электронных компонентов и узлов.

Руданов Григорий Сергеевич,  Региональный представитель National Instruments в г. Москве

13:00-13:30

Подходы и опыт организации участков и центров контроля электронной компонентной базы.

Чутко Олег Владимирович, менеджер по развитию бизнеса, National Instruments,

13:45-14:45

Обед

 

14:45-15:15

Обсуждение. Ответы на вопросы

 

 

   
Телефон: +7 (495) 225-15-22
e-mail: info@mosep.ru
г. Москва, Российская Федерация, 127299 ул. Космонавта Волкова, 12. Схема проезда
© Copyright 2014—2024
Яндекс.Метрика